BG US
START
ZAAWANSOWANE SZUKANIE
SCHOWEK
BAZA PUBLIKACJI PRACOWNIKÓW US
Opis prosty
Pełny opis (MARC21)
Karta katalogowa
Drukuj
Dodaj do schowka
Defect Cost Flow Model - A Bayesian Network for Predicting Defect Correction Effort /
Autor:
Radliński Łukasz
Tytuł wydawnictwa źródłowego
i odpowiedzialność:
Proceedings of the 6th International Conference on Predictive Models in Software Engineering /
Adres wydawniczy źródła:
New York, 2010
Miejsce w dokumencie:
s.
Słowa kluczowe:
empirical analysis
correction effort
decision support
defect flow
process modeling
Rodzaj dokumentu:
Rozdział/fragment
Opis w PBN:
284871
Numer opisu:
31333
x
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
<--
À
Á
Â
Ã
Ä
Å
Æ
Ā
Ă
Ą
à
á
â
ã
ä
å
æ
ā
ă
ą
Ç
Ć
Ĉ
Ċ
Č
Ď
Ē
É
Ê
Ë
ç
ć
ĉ
ċ
č
ď
ē
é
ê
ë
Ì
Í
Î
Ï
Ĺ
Ļ
Ľ
Ŀ
Ł
Ñ
ì
í
î
ï
ĺ
ļ
ľ
ŀ
ł
ñ
Ń
Ņ
Ň
Ò
Ó
Ô
Õ
Ö
Ō
Ŏ
ń
ņ
ň
ò
ó
ô
õ
ö
ō
ŏ
Ŕ
Ŗ
Ř
Ŝ
Ş
Ţ
Ť
Ŧ
Ũ
Ū
ŕ
ŗ
ř
ŝ
ş
ţ
ť
ŧ
ũ
ū
Ŭ
Ů
Ű
Ų
Ŵ
Ŷ
Ÿ
Ž
Š
ß
ŭ
ů
ű
ų
ŵ
ŷ
Ź
ž
š
È
è
§
¹
²
³
ý
Ý
û
Û
ě
Ě
°
Ú
ú
ʃ
Σ
Φ
α
β
γ
δ
ε
π
ø
Ø
ü
Ü
≈
€
